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馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽(yù)的 Mastersizer 3000硬件平臺(tái)上,進(jìn)一步優(yōu)化性能,增加了多項(xiàng)智能輔助功能,讓設(shè)備更易用,結(jié)果的確信度更高。
馬爾文帕納科臺(tái)式XRF能譜儀一體機(jī)Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內(nèi)置計(jì)算機(jī)、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測(cè)量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng),在結(jié)合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上,增加了多角度動(dòng)態(tài)...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強(qiáng)大、用途廣泛的常規(guī)實(shí)驗(yàn)室測(cè)量解決方案,可測(cè)量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號(hào)相比,其粒度測(cè)量速度超過(guò)...
公司簡(jiǎn)介


使用我們的技術(shù)可以測(cè)量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱、Zeta電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu),元素及物相等參數(shù)。這些信息對(duì)于預(yù)測(cè)產(chǎn)品在使用過(guò)程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能,從而實(shí)現(xiàn)高效制造至關(guān)重要。作為思百吉集團(tuán)成員,馬爾文帕納科(中國(guó))共有8個(gè)辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽(yáng)、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度,形貌,X射線等設(shè)備的專業(yè)實(shí)驗(yàn)室,完善的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備可以提供客戶售前測(cè)樣及其售后培訓(xùn)的配套服務(wù)與優(yōu)良的技術(shù)...
News
本文摘要電池材料中大的團(tuán)聚體和污染物會(huì)帶來(lái)嚴(yán)重風(fēng)險(xiǎn),所以對(duì)這些超大顆粒的檢測(cè)具有非常重要的意義,但由于這樣的顆粒在電極材料中的含量很少,檢測(cè)很具挑戰(zhàn)性。本文探索了Mastersizer3000+激光粒度儀結(jié)合自適應(yīng)激光衍射(SizeSure)和動(dòng)態(tài)成像(HydroInsight)技術(shù),提高檢測(cè)靈敏度,并對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行可視化體現(xiàn),從而對(duì)電極材料有了更深入的了解。引言電池的正負(fù)極材料通常采用粒度范圍較窄的材料制造。然而,在材料加工過(guò)程中,可能會(huì)引入細(xì)粉、團(tuán)聚體或污染物。雖然細(xì)粉可...
本文摘要多層鍍膜工件加工過(guò)程中,前一層表面活性劑的殘留量將對(duì)后一層涂鍍效果產(chǎn)生顯著影響,所以要對(duì)工件表面殘留的SDS總量和分布進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。本文通過(guò)XRF微區(qū)能譜分析技術(shù)配合無(wú)標(biāo)定量軟件,通過(guò)對(duì)金屬工件表面硫元素分布測(cè)定,表征十二烷基硫酸鈉殘留分布情況。XRF無(wú)損分析方法方便快捷,同時(shí)可以輸出含量對(duì)坐標(biāo)的分布圖。引言十二烷基硫酸鈉(SDS,SodiumDodecylSulfate)在電鍍工藝中主要作為表面活性劑使用,其作用主要包括:潤(rùn)濕劑:SDS能顯著降低電解液的表面張力,使...
2025年的“云答疑”活動(dòng)已經(jīng)落下帷幕,年終之際,我們盤點(diǎn)了本年度顆粒表征技術(shù)云答疑的部分典型的共性問(wèn)題,并配以應(yīng)用專家的回答作為合集放送,本篇包含激光衍射技術(shù)(Mastersizer系列)和動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)(Zetasizer系列),希望可以幫助您優(yōu)化儀器使用和方法開發(fā)工作。Mastersizer系列激光粒度儀相關(guān)FAQ01問(wèn)樣品團(tuán)聚,粒度結(jié)果與照片不符,如果判斷方法可靠?答激光粒度儀和圖像法測(cè)試粒徑的等效原理不同,一個(gè)是體積等效球直徑,一個(gè)是投影面像素分析,測(cè)試不規(guī)則顆粒大...
納米顆粒跟蹤分析儀是一種用于實(shí)時(shí)、可視化地檢測(cè)和表征液體中納米級(jí)顆粒(通常為10–2000nm)的先進(jìn)儀器,廣泛應(yīng)用于納米材料、生物醫(yī)藥、疫苗開發(fā)、外泌體研究、環(huán)境科學(xué)及食品工業(yè)等領(lǐng)域。其核心技術(shù)基于激光照明與高靈敏度攝像技術(shù)相結(jié)合,通過(guò)追蹤單個(gè)納米顆粒在布朗運(yùn)動(dòng)下的軌跡,計(jì)算其擴(kuò)散速度,并依據(jù)斯托克斯-愛(ài)因斯坦方程推導(dǎo)出顆粒的流體力學(xué)直徑,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)粒徑分布、濃度及顆粒運(yùn)動(dòng)行為的精確分析。納米顆粒跟蹤分析儀的應(yīng)用范圍:一、基礎(chǔ)科學(xué)研究領(lǐng)域納米材料表征金屬/氧化物納米顆粒:分...
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